透射电子显微镜基础知识 透射电子显微镜TEM测试

TEM透射电镜

一、透射电子显微镜（Transmission electron microscope，TEM）原理：

是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度相关，因此可以形成明暗不同的影像，影像将在放大、聚焦后在成像器件上显示出来。透射电子显微镜的分辨率比光学显微镜高的很多，可以达到0.1～0.2nm，放大倍数为几万～百万倍。

二、检测项目：

形貌观察、晶格（HRTEM）、能谱（点扫，线扫，面扫MAPPING）、衍射（SADE）。

三、测试注意事项：

1、常规粉末样品，无磁性单颗粉末尺寸最好小于1μm，磁性样品（含铁/钴/镍/锰元素）颗粒大小不超过200 nm；

2、提前核实是否含有有机物，有机物在高压下不稳定，拍摄过程中极易被打散，样品被打散的同时会污染到仪器，带有机物的样品无法拍摄mapping；

3、提供相关TEM测试相关的参考图，如SEM图、选区衍射参考图、点能谱参考图、Mapping参考图、拍摄目的/重点、拍摄具体放大倍数/标尺等。

四、样品要求：

1、粉末样品100mg左右；（

2、液体样品1mL左右。